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    涂层厚度测量的常用方法

    发布时间: 2020-10-20  点击次数: 428次

    覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。


    覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。


    X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。


    随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。市面上很多涂层检测仪测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,推荐德国EPK600涂层测厚仪,它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

    德国EPK涂层测厚仪minitest 600


    采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。

     

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